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3D AOI
1つのシステムで2つの生産ラインを検査
This is a 3D render of Viscom's product AOI iS6059 Dual-Lane Inspection. An automatic optical inspection system for components developed in 2024.
3D AOI
貴方はここにいます:

iS6059 デュアルレーンバリアント – デュアルレーン生産用の高速システム

iS6059 デュアルレーンバリアント検査は、特殊高速3Dセンサー技術の長所と優れた検査品質、傑出した検査速度を兼ね萎えています。この3D AOIシステムは、組立品の経済的な大規模生産用に開発され、構成部品とはんだ接合部を確実に検査します。製造工程内で賢くネットワーク接続することができ、インダストリー4.0に対応します。

 

検査対応範囲

  • 2レーンを同時に検査
  • シングルレーン同等品のオプションはどれも利用可能
  • 堅牢なシステムデザイン
  • 一元化された確認で不良品脱出ゼロが検証済み
  • 現行の製造に柔軟に組み込み
  • 改良された人間工学的デザイン
  • グローバルライブラリ、グローバルカリブレーション:あらゆるシステムに転写が可能
  • 組み込まれた検証またはViscom Quality Uplinkなどのインテリジェントソフトウェアを追加し、効果的なネットワーキングが可能
  • トレーサビリティ、オフラインでのプログラミング、統計的なプロセス制御
  • MESシステムとの通信
  • Viscomの分析ツールで、独自のリアルタイム画像プロセス
  • ハイパフォーマンスのOCRソフトウェア
  • デジタル多目的プラットフォームvConnectへの接続
構成部品:03015までのファインピッチコンポーネント
ハンダペースト、はんだ接合部、組立品の管理
欠陥/欠陥の特徴:はんだの過不足、はんだの欠如/はんだ飛び、コンポーネントの欠如、コンポーネントのオフセット、コンポーネントの間違い、コンポーネントの損傷、コンポーネントの過密、ビルボーディング、背面のコンポーネント、ピンの損傷、ピンの屈曲、はんだブリッジ/短絡、チップ立ち、リード浮き、はんだ不良、ノンウェッティング、汚染、極性エラー、回転、形状不良
オプション:フリーエリア解析、カラーリング解析、ウォブルサークルエラー、OCR、はんだ接合部ブローホール、はんだボール/はんだスパッタ
寸法  
システム筐体: 1100 mm x 2006 mm x 1753 mm
  (43.3" x 78.9" x 69") (W x D x H)
カメラ技術 XMs-II XM8-II XMplus-II XM-SPI-II
3Dセンサー技術        
Z解像度: 0.5 µm 0.5 µm 0.5 µm 0.1 µm
Z範囲: 最大30 mm 最大30 mm 最大30 mm 最大5 mm
  (1.1") (1.1") (1.1") (0.1")
         
角度付きビューカメラ        
メガピクセルカメラの台数: 8 8 8 4
         
直交カメラ        
解像度: 10 µm 8 µm 10 µm 12 µm
撮像視野: 50 mm x 50 mm 40 mm x 40 mm 50 mm x 50 mm 58 mm x 58 mm
  (1.9" x 1.9") (1.5" x 1.5") (1.9" x 1.9") (2.2" x 2.2")
         
検査の速度 最高65 cm2/s 最高50 cm2/s 最高70 cm2/s 最高80 cm2/s
         
取り扱い  
PCB寸法: 450 mm x 350 mm (17.7" x 13.8")、最小幅70 mm (2.8");
  長さ720mm (28,3") までの回路基板のためのロングボードオプションがあります。*
   
ソフトウェア  
ユーザーインターフェース: Viscom vVision、SI(ご要望による)
統計的プロセスコントロール: Viscom vSPC/SPC、オープンインターフェース(オプション)
検証ステーション: Viscom vVerify/HARAN
リモート診断: Viscom SRC(オプション)
プログラミングステーション: Viscom PST34(オプション)
   
* 個別の構成によります。お問い合わせください。  

メリットのまとめ

  • 2レーンを同時に検査
  • シングルレーン同等品のオプションはどれも利用可能
  • IPC準拠の3D組立品検査
  • 費用対効果が高い大量生産に特化した設計
  • もっとも要求の厳しいサイクルタイムの要件に合致
  • 一元化した検証により、誤通知が減少

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