確実なボンディング品質を確保する効率的なAOI検査およびAXI検査
![[Translate to Japanese:] [Translate to Japanese:]](/fileadmin/content/products/Bond_Inspection/X7056-II_BO/Viscom_Pictures_System_X7056-II_BO.png)
精密で迅速な検査 ― ワイヤーボンディング検査用X7056-II BO
Viscomの新型のボンディング検査システムは、需要が高まるボンディング領域のX線検査に理想的ソリューションです。X7056-II BOは、パワー エレクトロニクスや回路、センサー構造、電子機器パッケージング等の最終組立でに設置して100パーセントの品質検査確保する最適な検査システムです。このインラインシステムは、ワイヤーボンディングの光学検査とX線検査を効率的に統合しています。そのため、X7056-II BOは、パワー半導体やカプセル型センサーを包括的に検査にする他に類を見ないコンビネーションシステムです。高解像度センサーが、全てのボンディング部位やボンディングワイヤーの他、オープン接続部や覆われた結合箇所も確実に検査します。チップ下側のハウジングタイプのワイヤーボンディングや、覆われたハンダ接合部位も確実に検査します。AOIとAXIボンディング検査を組み合わせたこのシステムは、最高のサイクルタイムと最大限の検査精度を確保します。

検査範囲
- 3D-AXIシステムまたは3D-AXI/3D-AOIの組合わせタイプ
- 細線ボンディングワイヤーを用いた封入回路の検査に最適
- パワー半導体のハンダ接合部位のトップクラス検査
- 片面および両面実装型のコンポーネントを最高精度で検査
- 統合的検証によって検査プログラムを最大限に最適化
- 最適な分析および検証を一層確実にするための追加的垂直断面
- プラナーCTを採用した高精度の3D-AXIボリューム計算
- グローバルライブラリ、グローバルキャリブレーション: 全システムに移譲可能
- 一定した検査結果を確保するための自動的グレー値調整
- トレーサビリティ、統計的プロセス・コントロール、オフラインプログラミング、マルチライン検証
- Viscom Quality Uplink: 有効なネットワーク形成およびプロセスの最適化
オプション:
- 種々のモジュールに接続するインタフェースは自由にコンフィギュレーション可能
- ラベルプリンターや基板不良表示の制御、FIFOバッファ
- MESシステムとの通信
- SMEMA、IPC-CFX、Hermes基準、JARAS 1014等のM2M通信基準をサポート
SMD実装と25µmまでのワイヤーボンディングに対する組合わせ検査 | |
検査範囲: | |
導電性接着剤の結合・欠如・突出のチェック | |
覆われた接続箇所の確実なチェック | |
代表的なボンディング欠陥の検査: | ボール/スティッチの欠如・許容範囲外位置・形状相違、ゴルフクラブ形状、パッド汚染、ウェッジの欠如・許容範囲外のねじれ・形状相違・位置、空白領域の汚染、キャピラリープリント、ワイヤーの欠如、不適切なワイヤー配線、隣接ワイヤーとの間隔不足、短絡 |
その他のオプション: | 文字認識(OCR)、バーコード(BC/DMC)認識およびカラー認識、空き領域の検知 |
システム寸法 | |
システムハウジング: | 1493 mm x 1631 mm x 2251 mm(幅 x 高さ x 奥行き) |
「xFastFlow」付きの幅: 1933 mm | |
センサー | |
ディテクター | フラットパネルディテクター(FPD)、14 Bitのグレースケール |
解像度: | 6~30 µm/ピクセル(構成によって異なる) |
構成: | 1台のFPDとxyテーブル、5台の固定FPD(その他、ご要望に応じた設定) |
検査 | |
検査法: | 2D、2.5D、3D、X線検査のみ、あるいはAOI/AXIの組合わせシステムとして |
検査速度: | AOIは65cm²/s、但し、アプリケーションにより異なる、AXIはコンフィギュレーションにより異なる |
ハンドリング | |
基板寸法: | 450 mm x 350 mm(長さ x 幅) |
ソフトウェア | |
ユーザーインターフェース: | Viscom EasyPro |
利点の一覧
- ボンディング画像検査AOIおよびボンディングX線検査AXIの組合わせ検査
- 最高度の検査精度
- 太線および細線によるワイヤーボンディング検出用カメラモジュールのフレキシブルな選択
- 高スループットのワイヤーボンディング検査
- メンテナンスフリーのマイクロフォーカスX線管