iX7059 Oneは、高度な組み立て工程、パワーモジュール、半導体製造に最適な検査システムです。

一切妥協することなく、最高の精度を、追求します。iX7059 Oneにとり、精度は単なる目標ではなく、確実に保証されるものです。システムは最高水準の画像性能を誇り、他にはない1μmの解像度という、驚嘆するような品質の画像を提供します。入り組んだ半導体デバイスから、複雑なリードフレームの用途まで、圧倒されるほど明確に、あらゆる細部をとらえます。

そして、精度は画像の品質以上までを網羅します。ゆるぎない正確性で、瑕疵を特定、対処する性能を備えます。この点でiX7059　Oneは最大の性能を発揮し、瑕疵の検知における新たなベンチマークを設定する、さらなる被写界深度を誇ります。わずかな傷であれ、目立った欠陥であれ、この高度検査システムの、細部までしっかり見つめる眼差しは全てを捉えます。

iX7059 Oneが他製品と異なる点は、その多彩さです。2Ⅾ、2.5D、3DにわたるX線検知機能で、今日の製造におけるさまざまなニーズに対応します。内部構造が複雑な半導体デバイスから、包括的な分析を必要とするリードフレーム用途まで、本システムはさまざまな製品機能の検査に、単独から、並ぶものがない完全なインライン検査まで対応する柔軟性を備えています。