Semiconductores y microelectrónica

Detección de errores a la escala más pequeña

Desde los procesos a nivel de oblea hasta el encapsulado avanzado, las tecnologías de Viscom revelan errores y desviaciones incluso en las estructuras más pequeñas. La inspección detallada de interconexiones, uniones, sustratos y características internas del encapsulado contribuye a procesos estables y a un mayor rendimiento de producción.

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Semiconductores y microelectrónica

Precisión a nivel micro

La industria de semiconductores y electrónica depende de tecnologías avanzadas de inspección para garantizar las más altas normas de calidad, confiabilidad y desempeño. Desde la fabricación de obleas hasta el encapsulado avanzado, la inspección precisa es esencial para detectar de forma temprana defectos como grietas, vacíos, contaminación y desalineación. Esto incluye la inspección a nivel de oblea y de die, así como el análisis de interconexiones como las microvías y las vías pasantes de silicio (TSV), lo que permite a los fabricantes optimizar el rendimiento de producción y mantener la estabilidad del proceso en entornos de producción cada vez más complejos.

Con la rápida evolución del encapsulado avanzado, la inspección desempeña un papel crítico para asegurar la integridad de las bolas de soldadura, los bumps, los pads y diversas tecnologías de unión, como las uniones por wire bonding, el flip-chip, las uniones híbridas y la unión directa. Además, la inspección 3D de las estructuras internas del encapsulado y el monitoreo de procesos a nivel de oblea son clave para garantizar el desempeño y la confiabilidad a largo plazo en aplicaciones de alta densidad y alto desempeño.

En la electrónica de potencia y en el procesamiento avanzado de materiales, la inspección es igualmente vital para asegurar la durabilidad y la eficiencia. Esto incluye la evaluación de sustratos DCB, AMB y cerámicos, así como de interfaces sinterizadas y soldadas y de la integridad de las uniones en los módulos de potencia. Además, las soluciones de inspección de Viscom permiten un análisis preciso de materiales avanzados, como las pastas de sinterizado, de oro y de plata, lo que respalda un control de volumen exacto, la homogeneidad y procesos de fabricación estables en una amplia gama de aplicaciones industriales.

Soluciones de inspección para microelectrónica

Desde la fabricación de obleas y el encapsulado avanzado hasta la electrónica de potencia, los sistemas avanzados de inspección 3D por rayos X de Viscom y las soluciones de inspección de uniones detectan errores ocultos en cada etapa de la fabricación de semiconductores. La inspección de alta resolución garantiza el máximo rendimiento de producción, interconexiones confiables y una calidad constante para los dispositivos semiconductores de próxima generación.

Inspección a nivel de oblea y die

Inspeccionamos obleas y dies en busca de errores superficiales, grietas, vacíos, contaminación, desalineaciones y desviaciones estructurales. La inspección por rayos X de alta resolución verifica las RDL, las TSV, las vías y las interconexiones para asegurar la precisión antes del ensamble.

Inspección de encapsulado avanzado

Inspeccionamos bolas, bumps, pads, uniones wire bonding, flip-chip, uniones híbridas y uniones directas en busca de errores ocultos y desviaciones del proceso. La inspección 3D por rayos X de alta resolución verifica las estructuras internas del encapsulado y la calidad del encapsulado a nivel de oblea.

Inspección de electrónica de potencia

Inspeccionamos sustratos DCB, AMB y cerámicos, interfaces soldadas y sinterizadas, y las uniones de los módulos de potencia en busca de vacíos, delaminaciones y errores estructurales. La inspección avanzada por rayos X garantiza la integridad de las uniones y el desempeño confiable de los dispositivos de potencia.

¿Por qué elegir Viscom?

¡Hacemos que la tecnología sea segura, confiable y sostenible!

40 años de experiencia

Cuatro décadas de experiencia en inspección, combinando un profundo conocimiento del sector con una capacidad de innovación comprobada para ofrecer soluciones de inspección confiables.

Detección de errores al 100 %

Siempre avanzando con las últimas soluciones de inspección para alcanzar las tasas más altas de detección y respaldar la manufactura con cero errores.

Soluciones de inspección galardonadas

Sistemas de inspección líderes en la industria, reconocidos en todo el mundo por su desempeño excepcional, precisión y confiabilidad en todas las etapas de producción.

Contacto

Encuentre la solución de inspección adecuada para su proceso de fabricación

Aproveche las tecnologías de inspección premiadas de Viscom y la asistencia global de nuestros expertos.

Aplicaciones

Inspección de BGA / QFN

La inspección por rayos X de Viscom detecta errores ocultos en las uniones de soldadura de componentes BGA (matriz de esferas) y QFN (encapsulado plano cuadrado sin terminales), incluidos vacíos, cortos de soldadura y errores Head in Pillow. La inspección precisa de las conexiones ocultas permite la detección temprana de errores en ensambles SMT complejos.

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Inspección de la unión wire bonding

A medida que la unión wire bonding avanza hacia hilos más delgados, pasos más finos y aplicaciones de alta potencia, la inspección sin errores se vuelve esencial, especialmente en la industria automotriz y la electrónica 5G.

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Inspección de vacíos

Los vacíos pueden formarse dentro del material aplicado cuando el aire, el gas, la humedad o los contaminantes quedan atrapados durante la aplicación, el dispensado, el curado o la fabricación.

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