半导体与微电子

最小尺度的缺陷检测

从晶圆级工艺到先进封装,Viscom 技术能够发现即使是最微小结构中的缺陷和偏差。对互连、键合、基板及封装内部特征进行详细检查,有助于保持工艺稳定并提高良率。

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半导体与微电子

微观层面的精准

半导体与电子行业依赖先进的检查技术来确保最高的质量、可靠性和性能标准。从晶圆制造到先进封装,精确的检查对于在早期发现裂纹、空洞、污损和错位等缺陷至关重要。这包括晶圆与晶粒级检查,以及对微通孔和TSV等互连结构的分析,使制造商能够在日益复杂的生产环境中优化良率并维持工艺稳定性。

随着先进封装的快速发展,检查在确保锡珠、凸点、焊盘以及各种键合技术(如金线键合、倒装芯片、混合键合和直接键合)的完整性方面发挥着关键作用。此外,对封装内部结构的3D检查以及晶圆级过程监控,是在高密度和高性能应用中保证性能和长期可靠性的关键。

在功率电子和先进材料加工领域,检查同样对确保耐久性和效率至关重要。这包括对DCB、AMB和陶瓷基板的评估,以及对功率模块内烧结与焊接界面及键合完整性的检查。此外,Viscom的检查解决方案能够对烧结膏、金膏和银膏等先进材料进行精确分析,支持精确的体积控制和均匀性,并在广泛的工业应用中维持稳定的制造工艺。

微电子检查解决方案

从晶圆制造和先进封装到电力电子领域,Viscom的先进3D X光检测系统和键合检查解决方案可在半导体制造的每个阶段发现隐藏的缺陷。高分辨率检查可确保最高良率、可靠的互连以及下一代半导体器件的一致质量。

 

晶圆与芯片级检查

我们检查晶圆和芯片的表面缺陷、裂纹、空洞、污损、对准误差和结构偏差。高分辨率X光检测验证RDL、TSV、通孔和互连,以确保组装前的精度。

先进封装检查

我们检查球、凸点、焊盘、金线、倒装芯片、混合键合和直接键合,以发现隐藏的缺陷和制程偏差。高分辨率3D X光检测验证内部封装结构和晶圆级封装质量。

电力电子检查

我们检查DCB、AMB以及陶瓷基板、焊接与烧结界面和功率模块键合,以寻找空洞、脱层和结构缺陷。先进的X光检测确保键合完整性以及功率器件的可靠性能。

为什么选择 Viscom?

我们让科技更安全、更可靠、更可持续!

40 年的专业积淀

四十年的检查专有技术,融合深厚的行业积淀与经验证的创新能力,为您提供值得信赖的检查解决方案。

100% 缺陷检测

始终通过最新的检查解决方案持续进步,实现最高检测率,助力零缺陷制造。

屡获殊荣的检查解决方案

行业领先的检测系统,凭借卓越的性能、精准性和可靠性,覆盖生产各环节,并获得全球广泛认可。

联系方式

为您的制造流程匹配合适的检查方案

受益于 Viscom 屡获殊荣的检查技术以及我们的全球专家技术支持。

应用

BGA / QFN 检查

Viscom 的 X光检测可发现 BGA(球栅阵列)和 QFN(四方扁平无引脚)元件中的隐蔽焊点缺陷,包括空洞、焊桥和枕头效应缺陷。对隐蔽连接进行精确检查,可在复杂的 SMT 组件中及早发现缺陷。

 

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引线结合处检测

随着金线键合朝着更细的线径、更小的间距和更高功率的应用发展,实现无缺陷的检查变得必不可少,尤其是在汽车和 5G 电子领域。

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空洞检查

当空气、气体、湿气或污染物在施涂、点胶、固化或制造过程中被困时,应用内部可能会出现空洞。

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