结合处检测

确保结合处检测的精确性

Viscom先进的3D结合处检测解决方案能够可靠地发现细间距和大功率应用中的缺陷,确保对键合位置、金线路径和环路形状进行精确检查。凭借高速成像和先进的3D检查技术,Viscom系统可确保工艺稳定、减少误报,并在要求严苛的电子制造中保持一致的质量。

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结合处检测

用于金线键合的先进检查解决方案

随着金线键合朝着更细的线径、更小的间距和高功率应用发展,无缺陷的检查变得至关重要,尤其是在汽车和5G 电子领域。Viscom 的 3D 结合处检测系统能够以高精度识别直径低至 17μm 的金线。先进的照明和高速相机技术提供详尽的 3D 图像、减少误报,并实现可靠的缺陷验证。

这些系统支持所有标准键合工艺,包括球焊-楔焊、楔焊-楔焊和安全键合,并适用于铝、铜、银和金等多种材料。检查内容涵盖键合位置、金线路径、环路形状和元件贴装位置,同时,集成的趋势分析功能和自动化缺陷检测功能可确保工艺稳定,并实现持续的质量监控。

为什么选择 Viscom?

我们让科技更安全、更可靠、更可持续!

40 年的专业积淀

四十年的检查专有技术,融合深厚的行业积淀与经验证的创新能力,为您提供值得信赖的检查解决方案。

100% 缺陷检测

始终通过最新的检查解决方案持续进步,实现最高检测率,助力零缺陷制造。

屡获殊荣的检查解决方案

行业领先的检测系统,凭借卓越的性能、精准性和可靠性,覆盖生产各环节,并获得全球广泛认可。

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为您的制造流程匹配合适的检查方案

受益于 Viscom 屡获殊荣的检查技术以及我们的全球专家技术支持。

产品

iS 6059 结合处检测

iS 6059 结合处检测系统采用 Viscom 最高端的在线技术并具备最顶尖的性能,用于金线的自动光学检查。在必须实现高吞吐量时,双轨道操作可以显著缩短检查用时。

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iX7059 One

在追求卓越、精准的道路上我们绝不妥协。iX7059 One 让精准不再只是所追求的目标,而是一项保证。

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vConnect - 数字互联的下一步

借助vConnect多功能平台,Viscom正在推出面向高性能检测系统的全面现代化解决方案组合。其目标是重现数字工厂,使其与真实工厂如出一辙。

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产品概述