iX7059 One
Unerreichte Bildqualität bis zu einer erstaunlichen Auflösung von 1 μm für die Inspektion komplizierter Halbleiterbauteile bis hin zu komplexen Leadframe-Anwendungen, bei denen jedes Detail mit atemberaubender Klarheit erfasst wird
- Inspektion von Objekten bis zu 15 kg
- Auflösung von bis zu 1 μm
Für: Lötstelleninspektion, Mikrorisse, Void-Analysen, Leadframe-Inspektion, Lötschichtqualität, kalte Lötstellen, Lötstellenmorphologie, HiP für Lötstellen, Drahtbonddefekte, fortschrittliche Packaging-Anwendungen