X7056-II BO

高效的 AOI 和 AXI 检查,实现完美结合

  • 金线 AOI 与金线 AXI 相结合
  • 高分辨率金线检查
  • 适用于电力电子与传感器

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快速、精确的检查——用于键合金线的 X7056-II BO

Viscom 的新型结合处检测系统为满足结合区域日益增长的X光检测需求提供了理想解决方案。X7056-II BO 非常适合安装在电力电子、电路、传感器制造及封装的最终装配环节,以确保 100% 的质量控制。该在线系统有效地将光学金线控制与X光检测结合在一起。在此基础上,独特的 X7056-II BO 组合系统可确保对功率半导体和封装传感器元件进行全面检查。高分辨率摄像头系统确保对所有结合处、金线以及外露和隐藏连接点进行绝对可靠的检查。封闭的金线以及芯片下方隐藏的焊点也能得到可靠检查。AOI 与 AXI 相结合的结合处检查可在最大检查深度下实现极快的周期时间。

多金线结合处的缺陷检测

X射线图像上的结合处检测

来自 Viscom 的 AXI 系统的检查图像

探索由 Viscom 的 3D AXI 技术采集的一系列检查图像。画廊展示了高分辨率 X 射线成像、可靠的缺陷检测,以及对隐藏焊点和内部结构的精确分析。这些示例表明,先进的 AXI 检查如何支持现代电子制造中的质量保证,即使针对复杂且高密度装配的组件亦然。

技术规格

X 光技术 
X光发生管摄像头技术*:XM-Bond 3D 模块 – 正交摄像头
高压视场
管电流分辨率
探测器百万像素摄像头数量
分辨率密封式 X光发生管
X 光机箱60 - 130 kV
50 - 300 μA 
平板探测器 (FPD),14 位灰值深度25 mm x 25 mm(0.98" x 0.98")
6-30µm /像素(取决于配置)5 μm
根据德国《辐射防护法》(StrlSchG)和《辐射防护条例》(StrlSchV)设计,以满足全防护设备的要求。辐射泄漏率 < 1 µSv/h1

软件

 
用户界面可使用 Viscom EasyPro/vVision
验证维修站Viscom HARAN
SPCViscom SPC(统计流程控制),开放式界面(可选)
远程诊断Viscom SRC(软件远程控制)(可选)
离线编程Viscom PST34(外部编程站)(可选)
系统性缺陷分析和持续系统监控Viscom PDC(过程数据控制)、TCM(Technical Chain Management)

检查

 
典型键合缺陷的检查球焊点/鱼尾焊点缺失、球焊点/鱼尾焊点位置超差、球焊点/鱼尾焊点几何形状偏差、高尔夫球杆形态、焊盘污损、楔形焊点缺失、楔形焊点旋转超差、楔形焊点几何形状偏差、楔形焊点位置、落点区域污损、劈刀压痕、金线缺失、金线走向缺陷、与相邻金线的间距不足、焊桥
附加选项光学字符识别(OCR)、条形码(BC/DMC)识别、颜色识别、开放区域识别
对SMD贴装和尺寸达25 µm的金线进行联合检查
检查导电胶粘接、导电胶缺失及导电胶过量
对隐藏连接器进行可靠检查
系统计算机

操作系统

 
处理器Intel® Core™ i7
Windows®印刷电路板(PCB)处理

基板尺寸

最大 450 mm x 350 mm (17.7" x 13.8") (长 x 宽)
通行高度850 - 980 mm ± 20 mm(33.5" - 38.6" ± 0.8")
基板夹紧装置气动
基板支持宽度3 mm (0.1")
上方通行高度最大 25 mm (1");分辨率为 8 μm 的 FPD:20 mm (0.8")
下方通行高度50 mm(2")
处理时间≥ 4 s(带 xFastFlow)
X7056-II BO其他系统数据

其他系统数据

X7056-II BO 
定位/处理单元同步线性电机 
接口SMEMA、SV70、客户专属 
电源要求400 V(其他电压请具体洽询),3P/N/PE,8 A,4-8 bar 的工作压力 
系统尺寸1493 mm x 1631 mm x 2251 mm(58.8" x 64.2" x 88.6")(宽 x 高 x 深) 
生产线集成尺寸+25 mm (1") 
重量2245 kg (4949 lbs) 

规格和其他系统信息可能会在未经通知的情况下更改,并且可能与订购时显示的信息不同。

让科技更安全、更可靠、更可持续

Viscom 是工业检查技术的全球领导者,为每一项检查任务提供创新解决方案:从 AOI、AXI、MXI、锡膏检测到键合检查和保护漆检查。得益于智能软件和 AI 驱动技术,Viscom 屡获殊荣的系统帮助全球制造商在包括汽车、航空航天、半导体、医疗技术、消费电子和电信在内的各个行业实现最高水平的质量、精度与工艺可靠性。

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